デュアルタイプ膜厚計 SWT-9000 レンタル

<デュアルタイプ膜厚計 SWT-9000【サンコウ電子研究所】の特徴>

<デュアルタイプ膜厚計 SWT-9000【サンコウ電子研究所】の仕様>

デュアルタイプ膜厚計 SWT-9000【サンコウ電子研究所】の簡易取扱説明書

• 1、測定準備
• （1）ゼロ板は実際に測定する対象の素地を用意してください。
• （2）本体とプローブを接続してください。
• （3）プローブの型式等が表記されている側を裏にして、本体に音が鳴るまで差し込んで接続してください。
• 2、ゼロ調整
• （1）プローブを空中で保持し、ON/OFFキーを押して電源を入れてください。
• （2）起動中と表示された後、測定画面になります。
• （3）ZEROキーを押してゼロ板を10回測定してください。
• （4）プローブを空中で保持し、ZEROキーを押すと測定画面に戻りゼロ調整完了です。
• （5）ゼロ板を数回測定し、数値が0付近であることを確認してください。
• （数値が大きく離れている場合はゼロ調整をやり直してください）
• 3、標準調整
• （1）付属の標準板から測定対象と同じかやや厚めのものを選んでください。
• （2）ゼロ板の上にのせ、CAL/DELETEキーを押すと標準調整の画面に変わります。
• （3）のせた標準板を10回測定してください。
• （4）プローブを空中で保持し、標準板に記載されている数値になるよう上下矢印キーで変更してください。
• （5）CAL/DELETEキーで確定すると測定画面に戻ります。
• （6）ゼロ調整、標準調整の完了後はそのまま測定可能です。
• （7）使用を終了する際はON/OFFキーを押して電源を切ってください。

[オプション]厚物用プローブ（鉄素地用） Fe-20

説明	・プローブの互換性により本体との自由な組み合わせで接続が可能。 ・測定対象物に合わせて、鉄素地用 (電磁式) または、非鉄金属素地用 (渦電流式) を接続。 ・微小片等の測定に適した高安定性プローブなど、用途や測定範囲によりプローブの選択が可能。
測定方式	電磁誘導式
測定範囲	0~20mm
表示分解能	1μm：0~999μm 0.01mm：1~5mm 0.1mm：5~20mm
測定精度 (平滑面に対して垂直に測定)	0~3mm：±(5μm＋指示値の3％) 3.01mm以上：指示値の±3％以内
プローブ	1点定圧接触式、Ｖカット付 φ35×55mm
付属品	標準厚板、テスト用ゼロ板 (鉄用)
測定対象	鉄・鋼などの磁性金属素地上の厚物の測定物用
サンコウ電子研究所

厚物用プローブ（鉄素地用） Fe-20

[オプション]厚物用プローブ（非鉄素地用） Nfe-8

説明	・プローブの互換性により本体との自由な組み合わせで接続が可能。 ・測定対象物に合わせて、鉄素地用 (電磁式) または、非鉄金属素地用 (渦電流式) を接続。 ・微小片等の測定に適した高安定性プローブなど、用途や測定範囲によりプローブの選択が可能。
測定方式	渦電流式
測定範囲	0~8.00mm
表示分解能	1μm：0~999μm 0.01mm：1~8mm
測定精度 (平滑面に対して垂直に測定)	0~3mm：±(5μm＋指示値の3％) 3.01mm以上：指示値の±3％以内
プローブ	1点定圧接触式、Ｖカット付 φ35×59mm
付属品	標準厚板、テスト用ゼロ板 (非鉄用)
測定対象	アルミ、銅など非磁性金属素地上の絶縁性皮膜など、比較的厚物の測定物用
サンコウ電子研究所

厚物用プローブ（非鉄素地用） Nfe-8

[オプション]膜厚計SWTシリーズ オプションプローブ Fe-0.6Pen

説明	・SWT-8000II、8200II、9000用の電磁式プローブです。狭い箇所、小さい部位の塗装厚測定用として使用します。
測定方式	電磁誘導式
測定範囲	0~600μm
表示分解能	1μm：0~600μm 切替により 0.01μm：0~400μm、0.5μm：400~500μm
測定精度 (平滑面に対して垂直に測定)	0~100μm：±1μm または指示値の±2%以内 101μm~600μm：指示値の±2%以内
プローブ	1点定圧接触式、Ｖカット付 φ5.6×94mm
付属品	標準厚板、テスト用ゼロ板 (鉄用)
測定対象	鉄・鋼などの磁性金属素地上の塗装、ライニングなど狭い箇所、小さい部位の塗膜厚測定用
サンコウ電子研究所

膜厚計SWTシリーズ オプションプローブ Fe-0.6Pen